World Class Top Company ISU PETASYS
Overview
用于半导体操作检查的IC Tester用PCB
IC Tester设备是在半导体制造工艺中,确定半导体芯片是否能够在晶圆和封装状态下正常工作,并确定半导体芯片是否存在缺陷的设备,起到早期评价半导体的功能和可靠性,将不良产生的损失降至最低的作用。(株)ISU PETASYS 为确保基于高多层技术的新增长引擎,已进入半导体测试设备PCB市场,并一直专注于持续的产品开发。期待公司为挑战新领域而积累的技术和经验将反映到现有的网络业务中,创造协同效应。

Product
连接半导体芯片和测试设备的装置称为Probe Card。安装在Probe Card上的探针接触晶片并鉴别有缺陷的半导体芯片。
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Layer Structure

Specification
Item |
Specification |
Thickness |
6.2mm |
PCB Size |
480×480mm |
DHS(Min) |
Φ0.2 |
Layer Count |
82L |
Surface Finish |
ENIG |
与Probe Card一起包含于半导体检查设备的基板之一,用于Tester和半导体间的接口。
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Layer Structure

Specification
Item |
Specification |
Thickness |
5.0mm |
PCB Size |
403x403mm |
DHS(Min) |
Φ0.125 |
Layer Count |
52L |
Surface Finish |
ENIG |
用于Burn-In Test接口的基板,将从Burn-In 系统传达的各种信号传达给半导体,施加高温、高压等恶劣条件进行抵抗性测试,鉴别初期不良并评价产品的特性。
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Layer Structure

Specification
Item |
Specification |
Thickness |
1.6mm |
PCB Size |
450×571mm |
DHS(Min) |
Φ0.35 |
Layer Count |
8L |
Surface Finish |
Hard Gold + ENIG |
Special |
Polyimide Material |